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用途：PLS Plus激光微地貌掃描儀基于三角測量原理測量地表微地貌高程，采用激光掃描獲取各點高程，測量精度可以達到亞毫米級，測量過程無需接觸土壤表面，解決了測針法對土表擾動的弊端，測量結果更可靠，能準確反映地表微地貌的細微變化。
原理及應用：利用線性激光的反射與CCD成像原理，將地表形態(tài)轉換成不同物象點位置的電信號，再經(jīng)計算機軟件處理成數(shù)字高程模型（DEM），進而評價土壤侵蝕程度或進行相關機理研究。相對于PLS第一代產品，掃描速度更快，精度更高，采用筆記本電腦采集數(shù)據(jù)，野外使用更加方便。
應用領域：
■土表微地貌特征評價指標篩選與算法實現(xiàn)
■連續(xù)降雨過程中土表微地貌特征演變
■不同粗糙度土表粗糙度模型建立
■不同坡度剖面侵蝕及侵蝕泥沙分布
實測圖：
技術參數(shù)：
■剖面分辨率：0.5 mm
■垂直分辨率：0.1 mm
■測量寬度：60 cm
■測量長度：最大3 m
■每分鐘可掃描大于400個剖面
■實驗室和野外都可使用
■沒有土壤類型限制
■數(shù)據(jù)為XYZ 高程或矩陣數(shù)據(jù)
儀器配置：
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主系統(tǒng)： ■3米移動滑軌（長度可按要求定制） ■激光器發(fā)射器 ■CCD照相機及鏡頭 ■筆記本電腦（可選野外筆記本電腦） ■系統(tǒng)控制箱 ■野外使用可選蓄電池或交流電供電（需訂購時說明） |
移動框架： ■鋁合金框架 ■4個萬向輪 ■4個水平調整器 ■掃描儀固定裝置 |
產地：美國
